平行ビーム光学系 試料高さ・角度調整（半割）シミュレータ
装置模式図
透過X線強度:
0.0
%
θスキャンプロファイル (現在のz位置)
高さ z (mm):
0.00
角度 θ (deg):
0.00
新規試料をセット (ランダムな初期傾き)
【アライメントの手順】
zを上げてビームを半分遮る（強度50%付近）
θスキャンを行い，ピーク（強度が最大になる角度）を探す
θをピーク位置の角度に合わせる
強度がちょうど50%になるようにzを微調整する
手順2〜4を繰り返し，ピークトップで50%になれば完了！